Inspeção Inteligente Nano, Insights para o Futuro! Unicomp Technology AX9600 Premiada com o EM Innovation Award
2026/03/28
Em 26 de março de 2026, foi realizada em Xangai a 21ª Cerimônia de Premiação EM Innovation.
Apresentando capacidades avançadas, incluindo "captura de defeitos completos em nível de 0,8 µm, imagem em nanoescala e inspeção inteligente por IA de alcance total",
o AX9600 da Unicomp Technology ganhou o Prêmio EM Innovation.
Raio-X de Tubo Aberto da Unicomp
Equipamento de Inspeção Inteligente de Semicondutores AX9600
Equipamento de Inspeção Inteligente de Semicondutores AX9600
Equipado com a fonte de raio-X de microfoco tipo aberto de 160 kV desenvolvida pela Unicomp, ele atende prontamente aos requisitos de inspeção de chips de computação de IA, como HBM e GPU, bem como aplicações de embalagem avançada.
• Super Ampliação 2000X • Imagem em Tempo Real de Alta Definição
• Inspeção Omnidirecional de 360° • Medição Automática de Defeitos com IA
Como um reconhecimento de grande prestígio na indústria de fabricação de eletrônicos,o Prêmio EM Innovation seleciona fornecedores que fizeram contribuições notáveis para o desenvolvimento e inovação do setor,
com base em sete dimensões, incluindo capacidade de inovação, melhoria da capacidade de produção e avanço de processos.
Este reconhecimento ressalta que o desempenho robusto do AX9600 conquistou grande aclamação tanto da indústria quanto do mercado,ao mesmo tempo em que demonstra a total confiança e forte preferência dos clientes da indústria pela Unicomp Technology.
